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Microscope à force atomique (AFM) multimode, Nanoscope V, utilisé pour la caractérisation de surface | CNRS Images
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AFM (Microscope à Force Atomique), laboratoire de microscopie électronique de la sonde, CIC nanoGUNE, la nanoscience Cooperative Research Centre, San Photo Stock - Alamy
AFM - Atomic Force Microscope - RWTH AACHEN UNIVERSITY Central Facility for Electron Microscopy - English
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